Microscopio de rayos X ZEISS Xradia Ultra

de laboratorio3Dde alta resolución

La nanotomografía de rayos X de sincrotrón le permite capturar imágenes en 3D de forma no destructiva a nanoescala, pero tiene que solicitar un tiempo de haz muy limitado. ¿Y si ya no tuviera que esperar por el sincrotrón? Imagine si tuviera capacidades de sincrotrón en su propio laboratorio. Con la familia ZEISS Xradia Ultra, dispone de microscopios de rayos X (XRM) en 3D no destructivos que le ofrecen resolución a nanoescala con calidad tipo sincrotrón. Elija entre dos modelos: tanto ZEISS Xradia 810 Ultra como ZEISS Xradia 800 Ultra están adaptados para obtener una calidad de imagen óptima para sus aplicaciones más utilizadas. Captura de imágenes no destructiva en entorno nativo. Captura de imágenes de rayos X en 3D a nanoescala con resolución espacial de hasta 50 nm y tamaños de vóxel de 16 nm. Experimentos in situ en 3D y 4D. Cuantificación de nanoestructuras y uso de los datos para modelar las entradas. Explorar materiales duros y blandos. Potencie su investigación con la captura de imágenes no destructiva a nanoescala Aproveche la captura de imágenes no destructiva única para observar fenómenos a nanoescala en sus entornos nativos en 3D. Benefíciese del único instrumento que rellena el hueco entre los XRM de resolución submicrónica (como ZEISS Xradia Versa) y la captura de imágenes en 3D con resolución superior, pero destructiva, p. ej., FIB-SEM. Use soluciones integradas in situ para la captura de imágenes de rayos X no destructiva en 3D/4D en su laboratorio, con una resolución de hasta 50 nm y un tamaño de vóxel de 16 nm. Acelere su investigación añadiendo estas capacidades únicas a su portfolio analítico.