Interferómetro láser Verifire™
para la medición de la planeidadópticode Fizeau

Interferómetro láser - Verifire™ - Zygo - para la medición de la planeidad / óptico / de Fizeau
Interferómetro láser - Verifire™ - Zygo - para la medición de la planeidad / óptico / de Fizeau
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Características

Aplicaciones
para la medición de la planeidad
Especificaciones
láser, óptico, de Fizeau, de alta resolución, de alta precisión

Descripción

El sistema de interferómetro Verifire™ proporciona mediciones rápidas y fiables del error de forma de la superficie, y del frente de onda transmitido de los componentes, sistemas y conjuntos ópticos. El sistema Verifire™, un verdadero diseño de láser Fizeau, amplía la experiencia inigualable de ZYGO en la metrología de formas superficiales. La fuente láser HeNe fabricada por ZYGO, combinada con los algoritmos de adquisición patentados por ZYGO y el completo software de metrología Mx™, permite una metrología de alta precisión con capacidades de análisis fáciles de usar. Metrología segura en el taller La tecnología para la metrología óptica ha avanzado significativamente en los últimos años. En el pasado, los efectos ambientales debían controlarse cuidadosamente para lograr mediciones fiables. En la actualidad, ZYGO ofrece tecnologías que permiten realizar mediciones fiables en entornos adversos en los que las vibraciones y las turbulencias del aire pueden dificultar o imposibilitar la metrología óptica tradicional. Metrología de forma y planitud de superficies de componentes ópticos y frente de onda de sistemas ópticos y subconjuntos como ventanas, espejos, lentes, prismas, e incluso superficies metálicas y cerámicas mecanizadas con precisión. Se incluyen de serie características como la adquisición robusta de la vibración QPSI, el software Mx™ con todas las funciones para una medición, análisis y automatización potentes pero fáciles de usar, y una garantía inigualable de 3 años para la fuente láser HeNe fabricada por ZYGO.

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VÍDEO

Ferias

Este distribuidor estará presente en las siguientes ferias

SPIE Photonics West 2025

25-30 ene. 2025 San Francisco (USA - California)

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    MECSPE

    5-07 mar. 2025 BOLOGNA (Italia)

  • Más información
    * Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.