Interferómetro para la medición del desplazamiento ZMI™ Series
ópticoláserdiferencial

interferómetro para la medición del desplazamiento
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Características

Aplicaciones
para la medición del desplazamiento
Especificaciones
láser, óptico, diferencial

Descripción

La electrónica de medición de la ZMI™ calcula el desplazamiento utilizando las señales ópticas de los interferómetros accionados por una fuente láser de la ZMI™. La ZMI™ 501A ofrece dos ejes de medición en una cómoda caja independiente. Las tarjetas de las series ZMI™ 2400, 4000 y 4100 proporcionan una resolución subnanométrica para dar servicio a las aplicaciones de metrología de posición más exigentes. Estas tarjetas pueden añadirse modularmente en un chasis VME para proporcionar una escalabilidad de hasta 64 ejes de medición. Para lograr la máxima precisión en las mediciones, nuestra opción patentada de corrección de errores cíclicos elimina automáticamente y sin problemas los errores no lineales comunes intrínsecos a los sistemas DMI.

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Catálogos

Ferias

Este distribuidor estará presente en las siguientes ferias

SPIE Photonics West 2025

25-30 ene. 2025 San Francisco (USA - California)

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    MECSPE

    5-07 mar. 2025 BOLOGNA (Italia)

  • Más información
    * Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.