Interferómetro para la medición de la planeidad Verifire Asphere+
de calibraciónpara medición del espesorláser

interferómetro para la medición de la planeidad
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Características

Aplicaciones
para la medición de la planeidad, de calibración, para medición del espesor
Especificaciones
láser, de Fizeau, de alta resolución, de alta precisión, automatizado, de gran apertura

Descripción

La óptica asférica permite obtener importantes ventajas en el diseño y la implementación de sistemas de imagen, detección y láser utilizados en sectores como el de defensa y aeroespacial, sistemas de exposición e inspección de semiconductores y sistemas de imagen médica. La producción de las esferas que soportan estas aplicaciones depende de la metrología de precisión. Después de todo, cuando se trata de óptica asférica, no se puede fabricar lo que no se puede medir. El Verifire Asphere+ (VFA+) aprovecha las ventajas de la interferometría Fizeau para ofrecer una combinación única de metrología precisa, de alta resolución, rápida y de apertura total para las esferas axisimétricas El VFA+ proporciona una plataforma de metrología flexible para medir una gama de esferas axisimétricas con sólo cambiar la esfera de transmisión. El VFA+ está equipado con una etapa secundaria opcional que admite un holograma generado por ordenador (CGH) que amplía la capacidad de la forma de la esfera a las formas libres no simétricas y a las ópticas asféricas fuera del eje. ¡NUEVO! Con un enfoque en la mejora de la experiencia del usuario, puede configurar fácilmente nuevas mediciones, navegar por los datos y resultados de las mediciones y diagnosticar problemas de producción. El software Mx™ permite unas fases eficientes de I+D y de creación de prototipos, y mejora las aplicaciones de producción con unas sencillas funciones de configuración, alineación y medición con un solo clic. - Adaptable a la medición automatizada de bandejas de ópticas de varias piezas - Utilización como interferómetro Fizeau "normal" con carril de radio de curvatura de extrema precisión - Solución de metrología de la asfera rentable y compatible con el futuro: ¡actualice los sistemas VFA existentes a VFA+!

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Catálogos

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Ferias

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Metalex
Metalex

20-23 nov. 2024 Bangkok (Tailandia)

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    SPIE Photonics West 2025

    25-30 ene. 2025 San Francisco (USA - California)

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    * Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.