Microscopios de alta resolución Hitachi
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microscopio electrónico de barrido de emisión de campoSU3800SE/SU3900SE
Aumento: 5 unit - 600.000 unit
Resolución espacial: 2,5, 0,9 nm
... Los SEM Hitachi SU3800SE y SU3900SE proporcionan soluciones versátiles de captura de imágenes y análisis para diversas aplicaciones. Estos instrumentos ofrecen imágenes de alta resolución, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm
... en color de las placas de muestra cubren toda el área de muestra observable por SEM - Funcionamiento despreocupado: las colisiones entre la platina y los componentes del SEM quedan prácticamente eliminadas ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

Aumento: 6 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 4, 15 nm
... FlexSEM II es un SEM de sobremesa/compacto para tareas de captura de imágenes que van más allá del rendimiento de los SEM de sobremesa convencionales. Es el sistema ideal para cualquiera ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

Aumento: 10 unit - 250.000 unit
... extensión lógica de la microscopía óptica estereoscópica, el TM4000 III es un dispositivo básico para la microscopía electrónica de barrido. Permite obtener imágenes de muestras en el menor tiempo posible ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm
... - Fuente de electrones de emisión de campo frío con emisión de banda energéticamente estrecha, ideal para imágenes de alta resolución y EELS - Corrector de Cs Hitachi STEM, totalmente automatizado - Detector ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

Aumento: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Resolución espacial: 0,2, 0,14, 0,19 nm
... diferentes de pieza polar, siempre basadas en nuestra lente objetiva patentada para cambiar rápidamente entre alto contraste y alta resolución. Características del producto: - platina de muestras de ...
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