Microscopios para análisis Hitachi

Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... ventana con un ángulo sólido de hasta 0,7 sr para realizar análisis elementales de alta resolución tanto en modo SEM como STEM. Características del producto: - Combinación SEM-STEM con señal SEM ...

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,6 nm

... campo de desaceleración sobre la muestra - desde 100V (opción 10V) hasta 30kV de tensión de aceleración. Es posible realizar análisis EDX e imágenes de alta resolución con todos los detectores a una distancia de trabajo ...

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,7, 0,6 nm

... El SU8600 es el sucesor de la acreditada familia de SEM de emisión de campo Regulus y cumple los requisitos más exigentes para aplicaciones orientadas a la obtención de imágenes. El emisor de campo frío con su emisión ...

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,8 nm

... El SU7000 es ideal para muestras grandes o pesadas y para integrar una amplia gama de accesorios. Estos accesorios incluyen detectores analíticos o accesorios de platina para la manipulación de muestras in situ (estiramiento [tracción] ...

Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm

... en color de las placas de muestra cubren toda el área de muestra observable por SEM - Funcionamiento despreocupado: las colisiones entre la platina y los componentes del SEM quedan prácticamente eliminadas ...

Aumento: 6 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 4, 15 nm

... FlexSEM II es un SEM de sobremesa/compacto para tareas de captura de imágenes que van más allá del rendimiento de los SEM de sobremesa convencionales. Es el sistema ideal para cualquiera que no quiera ...

Aumento: 10 unit - 250.000 unit

... Diseñado como una extensión lógica de la microscopía óptica estereoscópica, el TM4000 III es un dispositivo básico para la microscopía electrónica de barrido. Permite obtener imágenes de muestras en ...