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... Lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico de resolución atómica El "GRAND ARM™2" ha sido actualizado. Este nuevo "GRAND ARM™2" permite la observación a una resolución espacial ultra alta con análisis ...
Jeol
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Jeol
... productividad "Simple SEM Simple SEM automatiza la recogida de imágenes en múltiples ubicaciones, condiciones y aumentos. - Herramientas para la velocidad Platina con alta precisión de posición. Reubique ...
Jeol
... adquiere imágenes filtradas de energía y espectros de pérdida de energía. Las imágenes de pérdida cero adquiridas con el microscopio proporcionan un alto contraste con aberración cromática reducida. ...
Jeol
Resolución espacial: 0,08 nm - 0,23 nm
... que facilita la observación de materiales con elementos ligeros, incluso con voltajes de aceleración bajos. La sala del microscopio está separada de la sala de operaciones para responder a una operación remota. Además, ...
Jeol
Resolución espacial: 0,23, 0,19, 0,14, 0,16 nm
... El JEM-F200 es un nuevo microscopio electrónico de transmisión de emisión de campo, que se caracteriza por una mayor resolución espacial y rendimiento analítico, un nuevo sistema de funcionamiento fácil de usar para operaciones ...
Jeol
Aumento: 50 unit - 1.500.000 unit
Resolución espacial: 0,1 nm - 0,31 nm
... información sobre el estado químico o elemental de una muestra. También se dispone de espectroscopia para el análisis elemental y el análisis químico de muestras. Características - Filtro de energía ...
Jeol
Aumento: 10 unit - 1.500.000 unit
Resolución espacial: 0,14, 0,2 nm
... necesidades, se ha equipado un nuevo microscopio electrónico de 120 kV "JEM-1400Flash" con una cámara sCMOS de alta sensibilidad, un sistema de montaje de área ultraamplia y una función de enlace de imágenes OM (microscopio ...
Jeol
... resultados de los análisis elementales, SMILE VIEW（TM） Lab para la generación de informes sin fisuras de los resultados de observación y/o análisis, etc., proporcionan un análisis rápido ...
Jeol
... se pueden realizar análisis de materiales extraños y controles de calidad más rápidos y detallados. Características Observación y análisis rápidos sin tratamiento de la muestra con el SEM ...
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