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Investigue, desarrolle y analice materiales, sobre todo muestras metalográficas, en muy poco tiempo gracias a ZEISS Axio Observer. Benefíciese de su diseño invertido. Axio Observer combina la calidad de la óptica de ZEISS con los componentes ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Resolución espacial: 0,7, 1,2 nm
ZEISS GeminiSEM permite captar imágenes de forma sencilla con resolución subnanométrica. Estos FE-SEM (microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo) combinan una excelente captura de imágenes y capacidad de ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Los instrumentos de la familia EVO combinan la microscopía electrónica de barrido (SEM) de alto rendimiento con una experiencia intuitiva y sencilla que resulta atractiva tanto para los usuarios experimentados como para ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... análisis FIB-SEM. Maximice su información de SEM Obtenga información auténtica de la muestra de sus imágenes SEM de alta resolución usando la óptica de electrones Gemini. Confíe en el rendimiento ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
La familia ZEISS Sigma combina la tecnología del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) con una excelente experiencia de usuario. Organice sus rutinas de análisis y captura de imágenes y aumente ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Microscopía digital con tecnología MALS™, inspección óptica de enfoque completo en tiempo real Los sistemas clásicos de inspección ofrecen una profundidad de campo insuficiente. Esto significa que algunas partes de ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Aumento: 1 unit - 100 unit
Peso: 40, 18 kg
Largo: 721 mm
Sistema de microscopio abierto para el análisis automatizado de materiales Disfrute de la facilidad de uso en su flujo de trabajo de microscopía óptica para la investigación avanzada de materiales. ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Aumento: 20 unit
Largo: 304 mm
Ancho: 210 mm
Microscopio para tareas rutinarias de materialografía y documentación inteligente La documentación digital nunca ha resultado tan sencilla. ZEISS Axiolab 5 es justo lo que necesita si sus aplicaciones de materialografía ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Peso: 32, 14, 20 kg
Largo: 240, 458,5 mm
Ancho: 293,5, 429 mm
El microscopio óptico vertical ZEISS Axioscope se ha diseñado específicamente para cumplir con los requisitos de captura de imágenes ópticas más comunes de los laboratorios de materiales. Es la elección correcta si sus ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Microscopía digital con tecnología MALS™, inspección óptica de enfoque completo en tiempo real Los sistemas clásicos de inspección ofrecen una profundidad de campo insuficiente. Esto significa que algunas partes de ...
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