Microscopios electrónicos de barrido Thermo Fisher Scientific

Resolución espacial: 0,7 nm - 1,8 nm
Peso: 5 kg
Ancho: 340 mm

... Scientific integra las funciones de espectroscopia de energía dispersiva (EDS) directamente en la interfaz de usuario del microscopio, lo que simplifica el análisis y ayuda a obtener resultados fiables con un sesgo mínimo ...

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 µm - 10 µm

... Aplicaciones del SEM de sobremesa Phenom XL G2 El microscopio electrónico de barrido (SEM) de sobremesa Thermo Scientific Phenom XL G2 de última generación automatiza ...

Aumento: 160 unit - 350.000 unit
Resolución espacial: 8, 6 nm

... Desktop SEM para un análisis SEM robusto y sin esfuerzo, ampliando su capacidad de investigación. MEB de sobremesa Phenom Pro La sexta generación del SEM de sobremesa Thermo Scientific ...

Aumento: 160 unit - 350.000 unit
Resolución espacial: 8, 6 nm

... SEM de sobremesa con capacidad EDS para un análisis elemental y SEM robusto, sin esfuerzo y versátil. MEB de sobremesa Phenom con difracción de rayos X de energía dispersiva La sexta generación del SEM ...

Aumento: 160 unit - 175.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 15 nm

... SEM de sobremesa económico y fácil de usar, con funciones de automatización fiables. El microscopio electrónico de barrido (SEM) de sobremesa Thermo Scientific Phenom ...

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10 nm

... Microscopio electrónico de barrido de sobremesa para la producción e investigación de baterías. Análisis de materiales avanzados para baterías MEB de sobremesa Phenom diseñado para ...

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10.000 nm

... SEM de sobremesa que permite la fabricación de acero de alta calidad mediante el análisis de fallos y la mejora de los procesos. Los metalúrgicos e investigadores en la fabricación de acero necesitan datos de microscopía ...

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10 nm

... partículas más pequeñas que el alcance de la microscopía óptica dentro de las industrias (de la automoción), el SEM de sobremesa Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) permite la microscopía ...

... SEM Análisis EDX de residuos de pólvora con SEM de sobremesa. Análisis SEM EDX de residuos de pólvora El análisis de residuos de pólvora (GSR) desempeña un papel importante en la determinación ...

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 10 nm

... SEM de sobremesa para análisis de fabricación aditiva, capaz de observar muestras grandes de hasta 100 mm x 100 mm. Análisis de fabricación aditiva El microscopio electrónico de barrido ...