Microscopios para nanotecnología Hitachi

Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... El SU9000 II es una combinación de SEM de imagen superficial y microscopio de transmisión por barrido con resolución de estructura intrínseca (STEM) optimizado para una resolución extrema. Esto es posible ...

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,8 nm

... El SU7000 es ideal para muestras grandes o pesadas y para integrar una amplia gama de accesorios. Estos accesorios incluyen detectores analíticos o accesorios de platina para la manipulación de muestras in situ (estiramiento [tracción] ...

Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm

... en color de las placas de muestra cubren toda el área de muestra observable por SEM - Funcionamiento despreocupado: las colisiones entre la platina y los componentes del SEM quedan prácticamente eliminadas ...

Aumento: 6 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 4, 15 nm

... FlexSEM II es un SEM de sobremesa/compacto para tareas de captura de imágenes que van más allá del rendimiento de los SEM de sobremesa convencionales. Es el sistema ideal para cualquiera que no quiera ...

Aumento: 10 unit - 250.000 unit

... Diseñado como una extensión lógica de la microscopía óptica estereoscópica, el TM4000 III es un dispositivo básico para la microscopía electrónica de barrido. Permite obtener imágenes de muestras en ...

Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm

... El HF5000 es un S/TEM con corrección de Cs personalizable para experimentos in situ. La característica especial la proporciona el detector Everhart Thornley SE, que toma imágenes de la superficie de la muestra a 60-200kV, igual que en ...