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Peso: 17 kg
Largo: 490 mm
Ancho: 251 mm
La serie de microscopios polarizadores ECLIPSE LV100N POL y Ci-POL se utiliza para estudiar las propiedades birrefringentes de especímenes anisotrópicos al observar el contraste de la imagen y los cambios de color. Nikon ...
Nikon Metrology
Aumento: 50 unit
Peso: 45 kg
... una gama de microscopios de semiconductores ideales para la inspección de circuitos integrados (IC), pantallas planas (FPD), dispositivos electrónicos de integración a gran escala (LSI) y muchas más aplicaciones. Microscopios ...
Nikon Metrology
Peso: 45 kg
... una gama de microscopios de semiconductores ideales para la inspección de circuitos integrados (IC), pantallas planas (FPD), dispositivos electrónicos de integración a gran escala (LSI) y muchas más aplicaciones. Microscopios ...
Nikon Metrology
Peso: 8,7 kg
Largo: 362 mm
Ancho: 251 mm
... el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en una solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE LV150NA y LV150N Estos microscopios con ...
Nikon Metrology
Peso: 8,6 kg
Largo: 362 mm
Ancho: 251 mm
... el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en una solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE LV150NA y LV150N Estos microscopios con ...
Nikon Metrology
Peso: 9,5 kg
Largo: 613 mm
Ancho: 251 mm
... análisis Gracias al diseño modular, el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en un solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE LV100NDA y LV100ND Estos ...
Nikon Metrology
Peso: 9,5 kg
Largo: 657 mm
Ancho: 251 mm
... análisis Gracias al diseño modular, el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en un solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE LV100NDA y LV100ND Estos ...
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