Perfilómetros industriales Chotest

... la medición y el análisis de grandes superficies asféricas, por lo que esta serie es una solución de medición ideal para la industria de las lentes ópticas. También puede utilizarse para medir el perfil y la rugosidad ...

... 1. Una vez escaneados los parámetros de perfil y rugosidad como Ra y Pt 2. Rugosidad de la superficie: Parámetro R, parámetro P, parámetro W, etc. 3. Evaluación del perfil de la superficie: Puede evaluar el radio, el ángulo, la distancia, ...

... 1. Evaluación del contorno de la superficie: Puede evaluar el radio, el ángulo, la distancia, las coordenadas, el círculo, la sección transversal circular, y determinar los puntos, cada punto de intersección, el eje de coordenadas, la ...

... El perfilómetro óptico 3D de superficie SuperView W1 es un instrumento ideal para la medición subnanométrica de diversas piezas de precisión. Basado en el principio de la tecnología de interferencia de luz blanca, combinado ...

... El perfilómetro óptico 3D de superficie SuperView W3 es un instrumento ideal para la medición subnanométrica de diversas piezas de precisión. Basado en el principio de la tecnología de interferencia de luz blanca, combinado ...

... Perfilómetros ópticos de superficie Nano 3D SuperView W1 Modelo Nº: SuperView W1/W1-Pro Nombre del producto: Nano 3D Optical Surface Profilometers Campo de visión estándar (0,98*0,98)mm Campo de visión máx: (6x6)mm Reflectividad ...

... El instrumento de medición de contorno de escaneo bidireccional SJ5780-200 es un instrumento de medición de contorno integral de escaneo activo de gran alcance y alta precisión. El instrumento de eje X, eje Z con sistema de movimiento ...

... El instrumento de medición de contorno de escaneo bidireccional SJ5780-300 es un instrumento de medición de contorno integral de escaneo activo de gran alcance y alta precisión. El instrumento de eje X, eje Z con sistema de movimiento ...

... El instrumento de medición de contorno de escaneo bidireccional SJ5780-400 es un instrumento de medición de contorno integral de escaneo activo de gran alcance y alta precisión. El instrumento de eje X, eje Z con sistema de movimiento ...

... El perfilómetro óptico 3D de superficie SuperView W1 es un instrumento ideal para la medición subnanométrica de diversas piezas de precisión. Basado en el principio de la tecnología de interferencia de luz blanca, combinado ...