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... diferentes. Para la medición de superposiciones, se admiten las estructuras Box-in-Box, Frame-in-Frame, L-Bars, Circle-in-Circle, Cross-in-Cross o personalizadas. Dimensión crítica La ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... diferentes. Para la medición de superposiciones, se admiten las estructuras Box-in-Box, Frame-in-Frame, L-Bars, Circle-in-Circle, Cross-in-Cross o personalizadas. Dimensión crítica La ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... diferentes. Para la medición de superposiciones, se admiten las estructuras Box-in-Box, Frame-in-Frame, L-Bars, Circle-in-Circle, Cross-in-Cross o personalizadas. Dimensión crítica La ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... repetibilidad (3sigma) se encuentra principalmente en el rango de varios nanómetros. características principales -Medición de dimensiones críticas, inspección de defectos y revisión ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... repetibilidad (3sigma) se encuentra principalmente en el rango de varios nanómetros. características principales -Medición de la dimensión crítica de la máscara -Disponible para tamaños ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... encuentra principalmente en el rango de varios nanómetros. características principales -Medición del espesor de la película de máscara y de las dimensiones críticas -Iluminación visible, ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... El sistema de infrarrojos de TZTEK ocupa una posición de liderazgo mundial. El sistema combina una cámara de infrarrojos de alto rendimiento con una óptica de infrarrojos de diseño optimizado ...
TZTEK Technology Co.,ltd
sistema de medición de dimensiones críticasMT3000VIS/IR
... El sistema de infrarrojos de TZTEK ocupa una posición de liderazgo mundial. El sistema combina una cámara de infrarrojos de alto rendimiento con una óptica de infrarrojos de diseño optimizado ...
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... El sistema de infrarrojos de TZTEK ocupa una posición de liderazgo mundial. El sistema combina una cámara de infrarrojos de alto rendimiento con una óptica de infrarrojos de diseño optimizado ...
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