Sistemas de preparación de muestra Hitachi

... extrayendo una micromuestra con un haz de iones en la cámara de vacío de un sistema FIB. Unidad de micromuestreo FIB y método de micromuestreo FIB Un ejemplo de muestreo de micropilares ...

... disminuye el daño a la muestra y reduce el tamaño medio de las partículas - Cámara opcional para muestras de hasta 150 mm de diámetro - Espaciador opcional para muestras ...

... la superficie de la muestra y el haz de electrones irradiado generan la contaminación de la muestra. Los hidrocarburos se adhieren generalmente de forma no covalente a la superficie de la muestra ...

... el fresado plano para preparar muestras en función de la finalidad. El control de la temperatura de refrigeración, la unidad de soporte de protección del aire y varias opciones permiten la preparación ...

... El sistema de haz de iones amplio más avanzado para producir muestras de sección transversal o de fresado plano de excepcional calidad para la microscopía electrónica. El ArBlade 5000 está equipado con ...

... para la preparación de muestras previa al análisis, garantizando los mejores datos posibles de sus muestras TEM. Las superficies de las muestras se contaminan inevitablemente ...